1. Тест полупроводников, конденсаторов, резисторов, индуктивностей производится за одну операцию – нажатием кнопки. Автоматическое выключение после теста.
2. Потребляемый ток после отключения не более 20nA .
3. Диапазон измерения резисторов составляет от 0,1 Ом до 50M Ом с точностью 1%.
4. Диапазон измерения емкости составляет от 25рF до 100mF и точностью 1%.
5. Диапазон измерения индуктивности составляет от 0,01mН до 20H и точностью 1%.
6. Автоматическое определение NPN, PNP биполярных транзисторов , N -канальных и Р- канальных MOS FET, JFET транзисторов , диодов, двойных диодов, тиристоров небольшой мощности, однонаправленных и двунаправленных тиристоров.
7. Автоматическое определение цоколевки полупроводников.
8. Измерение в биполярных транзисторах коэффициента усиления и порогового напряжения база – эмиттер.
9. Обнаружение защитных диодов в биполярных и MOS FET транзисторах.
10. Идентификация транзисторов Дарлингтона.
11. Измерение порогового напряжения и емкости затвора в MOS FET транзисторах.
12. Измерение ESR конденсатора с разрешением 0,01 Ом.
13. Измерение двойных резисторов (потенциометров) с отображение на дисплее символов резистора.
14. Отображение символов двойных диодов с измерением прямого напряжение каждого перехода.
15. Определение комбинированных светодиодов.
16. Определение напряжения пробоя в стабилитронах с напряжением не более 4.5V.
№491449
Регион: Киев
Дата: 11.03.18 в 11:08
Описание:
1. Тест полупроводников, конденсаторов, резисторов, индуктивностей производится за одну операцию – нажатием кнопки. Автоматическое выключение после теста.2. Потребляемый ток после отключения не более 20nA .
3. Диапазон измерения резисторов составляет от 0,1 Ом до 50M Ом с точностью 1%.
4. Диапазон измерения емкости составляет от 25рF до 100mF и точностью 1%.
5. Диапазон измерения индуктивности составляет от 0,01mН до 20H и точностью 1%.
6. Автоматическое определение NPN, PNP биполярных транзисторов , N -канальных и Р- канальных MOS FET, JFET транзисторов , диодов, двойных диодов, тиристоров небольшой мощности, однонаправленных и двунаправленных тиристоров.
7. Автоматическое определение цоколевки полупроводников.
8. Измерение в биполярных транзисторах коэффициента усиления и порогового напряжения база – эмиттер.
9. Обнаружение защитных диодов в биполярных и MOS FET транзисторах.
10. Идентификация транзисторов Дарлингтона.
11. Измерение порогового напряжения и емкости затвора в MOS FET транзисторах.
12. Измерение ESR конденсатора с разрешением 0,01 Ом.
13. Измерение двойных резисторов (потенциометров) с отображение на дисплее символов резистора.
14. Отображение символов двойных диодов с измерением прямого напряжение каждого перехода.
15. Определение комбинированных светодиодов.
16. Определение напряжения пробоя в стабилитронах с напряжением не более 4.5V.
Дополнительная информация: